Thermo Scientific Talos F200i(F200i S/TEM)是一款200 kV场发射透射电子显微镜,可实现高质量 2D/3D 成像、衍射与 STEM 分析,仪器配置侧入式可伸缩EDS探测器(Bruker X‑flash,分辨率≈129 eV),支持精准化学成分分析。通过高分辨成像与电子衍射等一系列分析,TEM可揭示材料内部的微观结构、晶体缺陷、晶粒界面,用于研究纳米材料微观形貌和结构。在矿物加工领域,TEM可用于观察矿物的晶体结构、包裹体形貌及金属元素的赋存状态,有助于优化选矿工艺与资源评估。其原子级别的解析能力,使其成为探索材料结构与性能之间关系的关键工具。
设备放置地点:生物楼101-1
