Thermo Scientific Talos F200i（F200i S/TEM）是一款200 kV场发射透射电子显微镜，可实现高质量 2D/3D 成像、衍射与 STEM 分析，仪器配置侧入式可伸缩EDS探测器（Bruker X‑flash，分辨率≈129 eV），支持精准化学成分分析。通过高分辨成像与电子衍射等一系列分析，TEM可揭示材料内部的微观结构、晶体缺陷、晶粒界面，用于研究纳米材料微观形貌和结构。在矿物加工领域，TEM可用于观察矿物的晶体结构、包裹体形貌及金属元素的赋存状态，有助于优化选矿工艺与资源评估。其原子级别的解析能力，使其成为探索材料结构与性能之间关系的关键工具。
设备放置地点：生物楼101-1
